來源：網(wǎng)絡(luò) 2012-7-19 關(guān)鍵詞：自動(dòng)化 工業(yè)自動(dòng)化 NI LabVIEW LCD組件 測(cè)試　　"我們選擇了美國(guó)國(guó)家儀器公司的即成可用的硬件模塊，并使用LabVIEW和NI TestStand軟件開發(fā)應(yīng)用程序，我們只用了12天就搭建了功能完備的測(cè)試系統(tǒng)，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了客戶對(duì)我們的期望。"　　挑戰(zhàn)：　　在14天內(nèi)，必須搭建一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)手機(jī)LCD各個(gè)配件，包括LCD屏幕，LCD屏幕背光燈，揚(yáng)聲器，感應(yīng)磁鐵，麥克風(fēng)，和實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池進(jìn)行完備的功能性測(cè)試，以及針對(duì)不同類型的所需測(cè)試搭建一個(gè)獨(dú)立的平臺(tái)　　解決方案：　　我們使用美國(guó)國(guó)家儀器公司的PXI平臺(tái)開發(fā)了一個(gè)高可靠和 靈活的測(cè)試系統(tǒng)，我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來完成對(duì)LCD屏幕的檢測(cè)，使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測(cè)試所需的圖形信號(hào)，使用模擬輸出模塊檢測(cè)麥 克風(fēng)，使用模擬輸入模塊測(cè)試測(cè)試實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池，揚(yáng)聲器和屏幕背光燈(對(duì)電流損耗進(jìn)行測(cè)試)?！　?　　使用PXI開發(fā)測(cè)試系統(tǒng)　　我們使用NI PXI平臺(tái)開發(fā)了一套高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng)。NI LabVIEW程序可以完成多種測(cè)試功能——視覺檢測(cè)，聲音測(cè)試，電流電壓測(cè)量、揚(yáng)聲器激振等。系統(tǒng)的主要測(cè)試項(xiàng)目是使用數(shù)字I/O模塊(NI PXI-6508)對(duì)LCD屏幕生成多種圖形信號(hào)然后對(duì)它進(jìn)行視覺檢測(cè)。Pulnix工業(yè)相機(jī)使用圖形采集卡(NI PCI-1411)采集圖像，采集到的圖像將由LabVIEW調(diào)用的NI顯示測(cè)試系統(tǒng)進(jìn) 行測(cè)試。如果被測(cè)元件通過視覺檢測(cè)和其他的測(cè)試，該元件將會(huì)被送去做最后的組裝;未通過測(cè)試的元件將被貼上一個(gè)供追蹤的序列號(hào)標(biāo)簽并記錄其未通過的測(cè)試， 然后被送返至組裝產(chǎn)線。通過LabVIEW，NI顯示測(cè)試系統(tǒng)和靈活的PXI平臺(tái)，整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)在不到兩周的時(shí)間內(nèi)就搭建完成。系統(tǒng)在運(yùn)行的第一個(gè)星期內(nèi) 就對(duì)超過25000個(gè)元件進(jìn)行了測(cè)試，完成了客戶的要求?？蛻舨坏馐褂妹绹?guó)國(guó)家儀器公司的工具產(chǎn)品，更額外購(gòu)買了其他兩套測(cè)試系統(tǒng)?！　〈笮碗娮又圃旆?wù)業(yè)公司所需的測(cè)試　　客戶是世界上最大的電子制造服務(wù)業(yè)公司之一——為一家世界上主要的手機(jī)生產(chǎn)廠商制造和組裝LCD部件。每個(gè)由該客戶制造 的LCD配件在運(yùn)往他們的最終用戶前都會(huì)經(jīng)過嚴(yán)密的測(cè)試。LCD組件包括多種功能性部件——LCD屏幕，背光燈，揚(yáng)聲器，麥克風(fēng)，電池——每個(gè)部件都需要 進(jìn)行不同類型的測(cè)試?？蛻魧?duì)于不同LCD部件的測(cè)試有不同的手動(dòng)測(cè)試工作站。LCD部件需要細(xì)心操作，不同的測(cè)試站還需要多次不停地裝載卸載部件，這樣的 操作方式并不明智。配件的總體測(cè)試時(shí)間非常高，而且該系統(tǒng)也會(huì)遇到人工測(cè)試系統(tǒng)常見的問題——準(zhǔn)確度，一致性和可靠性?！　】蛻粜枰⒁粋€(gè)測(cè)試系統(tǒng)來測(cè)試一種新的LCD組裝模式，該測(cè)試系統(tǒng)必須比現(xiàn)有的手動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)擁有更高的測(cè)試速率，更高 的可靠性和可溯源性。新的測(cè)試線需要在兩周內(nèi)完成，以完成其客戶的需求。由此，該客戶需要搭建一個(gè)獨(dú)立的測(cè)試站來測(cè)試所有的功能部件，而且必須要求全自動(dòng) 測(cè)試，高可靠性，并按照產(chǎn)品要求降低測(cè)試時(shí)間?！　】蛻粝Ｍ麥y(cè)試系統(tǒng)能夠符合下列要求：　　• 對(duì)LCD屏幕進(jìn)行視覺檢測(cè)　　• 對(duì)實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池進(jìn)行電池電量測(cè)試　　• 檢測(cè)LCD屏幕背光燈的性能　　• 檢測(cè)揚(yáng)聲器質(zhì)量——包括聲音測(cè)試，失真測(cè)試和耗電測(cè)試　　• 揚(yáng)聲器阻抗測(cè)試　　• 根據(jù)手機(jī)背板的位置，檢測(cè)背光燈明暗轉(zhuǎn)換時(shí)，感應(yīng)磁鐵的品質(zhì)　　客戶明確要求系統(tǒng)必須具備靈活性以便在將來添加其他所要求的測(cè)試，并要求該測(cè)試站必須還能在將來對(duì)新型的LCD屏幕進(jìn)行 測(cè)試，從而節(jié)省他們的投資?？蛻籼暨x了靈活可靠的PXI平臺(tái)來滿足其所追求的特性。美國(guó)國(guó)家儀器公司的即成可用硬件和功能強(qiáng)大的軟件工具，LabVIEW 和NI TestStand，幫助我們?cè)诓坏絻芍軆?nèi)為客戶搭建了測(cè)試系統(tǒng)。　　系統(tǒng)簡(jiǎn)介　　基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)包括一個(gè)NI PXI-1002機(jī)箱，內(nèi)置一個(gè)NI PXI-8174 控制器，NI PCI-1411圖像采集卡，NI PCI-6040E多功能數(shù)據(jù)采集卡和一塊NI PXI-6508數(shù)字I/O卡?！　CD屏幕測(cè)試　　我們使用數(shù)字I/O卡與LCD屏幕驅(qū)動(dòng)進(jìn)行連接通信，并在LCD屏幕上生成不同的測(cè)試圖案。每個(gè)測(cè)試圖案產(chǎn)生后，連接至 PCI-1411圖像采集卡的Pulnix模擬相機(jī)就會(huì)捕捉LCD屏幕上的圖像。圖案生成，LCD屏幕圖像捕捉，和兩者之間的同步均是由LabVIEW和 NI TestStand編寫的模塊實(shí)現(xiàn)的。我們?cè)O(shè)計(jì)NI顯示測(cè)試系統(tǒng)來測(cè)試平面顯示元件;這對(duì)于LCD屏幕測(cè)試堪稱是一個(gè)完美的解決方案。捕捉到的圖像經(jīng)由 NI顯示測(cè)試系統(tǒng)處理，以檢測(cè)生成的圖案中所有可能存在的問題。它包括逐像素點(diǎn)的驗(yàn)證以及復(fù)雜圖標(biāo)的顯示。NI顯示測(cè)試系統(tǒng)使得LCD屏幕測(cè)試變得輕松并 且?guī)椭覀冊(cè)趦芍軆?nèi)就完成了整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的搭建。　　其他測(cè)試　　下列所有其他的測(cè)試都是基于一塊連接到SCC系列便攜式、模塊化信號(hào)調(diào)理模塊的板卡(NI PCI-6040E多功能數(shù)據(jù)采集卡)完成的?！　?.實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池測(cè)試：我們將電池的兩極連至板卡的一個(gè)模擬輸入端，通過測(cè)量電池兩極的電壓來對(duì)實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池進(jìn)行測(cè)試，由此我們可以來檢驗(yàn)電池的不足。　　2. 揚(yáng)聲器性能測(cè)試：為了對(duì)揚(yáng)聲器進(jìn)行測(cè)試，我們?cè)趽P(yáng)聲器附近一個(gè)合適的位置放置了一個(gè)麥克風(fēng)，以收集 揚(yáng)聲器的響應(yīng)。來自揚(yáng)聲器的輸入信號(hào)經(jīng)過了SCC-ICP01，它是一個(gè)SCC信號(hào)調(diào)理模塊，它可以對(duì)麥克風(fēng)信號(hào)進(jìn)行濾波并進(jìn)行適當(dāng)?shù)男盘?hào)調(diào)理。 LabVIEW從數(shù)據(jù)采集卡模擬輸出一個(gè)多重音頻信號(hào)，并送至揚(yáng)聲器。而來自麥克風(fēng)的輸入信號(hào)連接至數(shù)據(jù)采集卡的一個(gè)模擬輸入通道進(jìn)行采集，以檢查揚(yáng)聲器 在不同頻率下的響應(yīng)情況。同時(shí)將產(chǎn)生一個(gè)1KHz的標(biāo)準(zhǔn)的正弦波，并傳送至揚(yáng)聲器，并分析其產(chǎn)生的失真，LabVIEW將從獲取的波形中計(jì)算諧波失真總 量。這個(gè)測(cè)試只是用到了一個(gè)簡(jiǎn)單的模擬輸出，一個(gè)模擬輸入和SCC信號(hào)調(diào)理模塊，避免了采用昂貴的帶有測(cè)聲計(jì)和發(fā)聲源的動(dòng)態(tài)信號(hào)分析儀?！　?. 揚(yáng)聲器阻抗測(cè)試：使用SCC-RTD01，一個(gè)SCC信號(hào)調(diào)理模塊，為揚(yáng)聲器輸出恒定電流，通過測(cè)量電壓來測(cè)試揚(yáng)聲器的阻抗。通過對(duì)SCC繼電器模塊，SCC-RLY進(jìn)行編程，可以實(shí)現(xiàn)揚(yáng)聲器響應(yīng)測(cè)試和阻抗測(cè)試的連接切換?！　?. 感應(yīng)磁鐵測(cè)試：感應(yīng)磁鐵用于在手機(jī)蓋翻開時(shí)，自動(dòng)打開背光燈。它將使用霍爾效應(yīng)傳感器和一個(gè)模擬輸入通道進(jìn)行測(cè)試?！　?. 背光燈測(cè)試：背光燈的測(cè)試由LCD屏幕測(cè)試時(shí)LCD屏幕產(chǎn)生的電流消耗量所決定，它將檢驗(yàn)背光燈是否合格?！　CD測(cè)試系統(tǒng)　　我們使用LabVIEW開發(fā)LCD測(cè)試系統(tǒng)，使用NI TestStand執(zhí)行并同步所有的上述測(cè)試。只要有可能，我們就并行地進(jìn)行測(cè)試，以節(jié)省測(cè)試總時(shí)間?！　y(cè)試夾具　　測(cè)試夾具的要求非常復(fù)雜，它需要與小型帶狀連接器相連，但又不能損壞已裝配好LCD屏幕的手機(jī)蓋。客戶的工程師設(shè)計(jì)出一 種巧妙的測(cè)試夾具，通過對(duì)相機(jī)，光源和鏡面的組合排布，以獲取測(cè)試系統(tǒng)所需的最佳圖像。該測(cè)試夾具可以描述為，操作員將手機(jī)的正面朝下，放入一個(gè)封閉的盒 子，LCD屏幕將由盒子內(nèi)部的鏡子反射至相機(jī)，并發(fā)出合適的亮度?！　〔僮鲉T將手機(jī)放入測(cè)試夾具并加以固定，然后通過用戶界面交互操作來開始測(cè)試。NI TestStand測(cè)試序列和LabVIEW程序?qū)?zhí)行手機(jī)上所有的測(cè)試，并彈出測(cè)試結(jié)果。如果測(cè)試失敗，則將產(chǎn)生一個(gè)針對(duì)特定部件的錯(cuò)誤代碼，以便返修 后對(duì)該部件進(jìn)行進(jìn)一步追蹤。如果部件在某一個(gè)測(cè)試中失敗了，則在其他測(cè)試完成前，該部件都將因此被拒絕測(cè)試，以節(jié)省測(cè)試時(shí)間。　　軟件模塊　　上述系統(tǒng)所需的測(cè)試將由一組主要的測(cè)試模塊來完成，該測(cè)試模塊結(jié)合NI TestStand 和NI顯示測(cè)試系統(tǒng)完成LCD屏幕測(cè)試，執(zhí)行并同步所有其他的測(cè)試。我們盡可能進(jìn)行并行測(cè)試以節(jié)省總測(cè)試時(shí)間。每次都會(huì)根據(jù)切換和日期變化，為用戶生成測(cè) 試報(bào)告，詳細(xì)說明組件未通過測(cè)試的原因和數(shù)值，以作進(jìn)一步使用。　　測(cè)試系統(tǒng)還能生成切換報(bào)告，追蹤所有發(fā)生問題的組件，并提供測(cè)試系統(tǒng)的利用系數(shù)。所有生成的報(bào)告都被儲(chǔ)存在PXI系統(tǒng)的硬盤中。報(bào)表模塊允許用戶檢查并打印任意切換、任意時(shí)間段的歷史報(bào)告。我們還能根據(jù)客戶要求，提供未通過測(cè)試元件的統(tǒng)計(jì)圖和其他統(tǒng)計(jì)參數(shù)?！　∽詣?dòng)化手機(jī)測(cè)試系統(tǒng)的主要特點(diǎn)　　• 完全自動(dòng)化的系統(tǒng)　　• 在一個(gè)系統(tǒng)中完美集成所有的功能測(cè)試　　• 具備高可靠性，靈活性和開放性，能滿足新測(cè)試的進(jìn)一步調(diào)整或合并需求　　• 連續(xù)生產(chǎn)能力(分為三組八小時(shí)的工時(shí)，一周六天)　　• 減少測(cè)試時(shí)間(每個(gè)元件減少約12秒，縮減幅度達(dá)到300%)　　我們根據(jù)虛擬儀器的概念搭建了測(cè)試系統(tǒng)。通過選用美國(guó)國(guó)家儀器公司現(xiàn)成可用的硬件模塊，并結(jié)合使用LabVIEW和NI TestStand編寫應(yīng)用程序，我們?cè)?2天的時(shí)間內(nèi)完成了功能測(cè)試系統(tǒng)的搭建，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了客戶的期望。