近日，NI公司對外推出了12種新型獨特的M和S系列的多功能數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備。這些設(shè)備將M系列多功能數(shù)據(jù)采集器的高性能的時間管理、放大和糾正技術(shù)的安全性結(jié)合在一起，并以此來增加精確性。此次內(nèi)存的分離功能增加了數(shù)據(jù)采集設(shè)備的安全性，并消除了損失測試精度的常規(guī)問題。這些新的多功能設(shè)備提供了16位精度度、250kS/s的樣本采集速率、±10 V 或±20 mA 模電輸出量、±10 V 或 0-20 mA 范圍的模擬電量輸出、5 V TTL/CMOS 或24 V 數(shù)字化輸入輸出功能。此次新型分離的M和S系列設(shè)備提供了通道對通道或庫分離技術(shù)，這種技術(shù)具有1950VDC/1400Vrms瞬間速度，并維持在5秒時間向PCI總線傳輸，這種功能保護(hù)了昂貴的設(shè)備，使用戶和數(shù)據(jù)免于有害電壓、瞬間信號和電流噪聲帶來的損害。這種設(shè)備具有電動分離電路前端的分離工作流程（這種電路前端有有害電壓存在），并能從其它的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中獲得數(shù)據(jù)。這種分離技術(shù)是特別重要的，尤其是從傳感器獲得測試數(shù)據(jù)時，這種應(yīng)用尤以在電力墻、大馬力、高壓轉(zhuǎn)換器或其它高壓輸電線中更顯重要。