可實現(xiàn)高效的光耦合|東芝推出小型光繼電器,高速導(dǎo)通有助于縮短半導(dǎo)體測試設(shè)備的測試時間
【ZiDongHua 之新品發(fā)布臺收錄關(guān)鍵詞:東芝 繼電器 光繼電器 TLP3476S 】
東芝推出小型光繼電器,高速導(dǎo)通有助于縮短半導(dǎo)體測試設(shè)備的測試時間
中國上海,2023年5月25日——東芝電子元件及存儲裝置株式會社(“東芝”)今日宣布,推出采用S-VSON4T封裝的光繼電器——“TLP3476S”,其導(dǎo)通時間與東芝當(dāng)前產(chǎn)品TLP3475S相比縮短了一半。該產(chǎn)品于今日開始支持批量出貨。
與東芝當(dāng)前的產(chǎn)品TLP3475S相比,TLP3476S運(yùn)行速度更快、結(jié)構(gòu)更緊湊。該產(chǎn)品通過提高紅外LED的光輸出并優(yōu)化光電探測器件(光電二極管陣列)的設(shè)計,可實現(xiàn)高效的光耦合,也提高了運(yùn)行速度,將導(dǎo)通時間最大值縮短至0.25ms,時間為TLP3475S的一半。此外,由于采用了尺寸更小、外形更纖薄的S-VSON4T封裝(最大厚度為1.4mm),TLP3476S的厚度比當(dāng)前產(chǎn)品減小了20%。這有助于減少需要多個電路板的設(shè)備的尺寸。
TLP3476S適用于繼電器數(shù)量多,并需要更短開關(guān)時間的半導(dǎo)體測試設(shè)備電路。
應(yīng)用
-半導(dǎo)體測試設(shè)備(高速存儲器測試設(shè)備、高速邏輯測試設(shè)備等)
-探測卡
-測量設(shè)備
特性
-小型S-VSON4T封裝:1.45mm×2.0mm(典型值),厚度=1.4mm(最大值)
-高速導(dǎo)通時間:tON=0.25ms(最大值)
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