便攜式設(shè)備中電源的工程學(xué)設(shè)計相關(guān)理論-模擬電子
便攜式設(shè)備中電源的工程學(xué)設(shè)計相關(guān)理論 2011-05-03 21:53:01來源:互聯(lián)網(wǎng)
為產(chǎn)品提供移動性能夠帶來額外的收益,并且可以開辟既有應(yīng)用之外的新興市場。便攜式超聲設(shè)備市場就是一個很好的例子。至今,超聲波圖像檢查還是需要到診所才可以完成。在大多數(shù)發(fā)達(dá)國家,這通常不是問題。然而在一些偏遠(yuǎn)的村鎮(zhèn),如果能夠?qū)⒃O(shè)備直接運(yùn)送到患者身邊,將極大地改善當(dāng)?shù)氐尼t(yī)療環(huán)境。在設(shè)計移動設(shè)備時,對重量、尺寸和操作時間的權(quán)衡取舍是挑戰(zhàn)性極強(qiáng)的工作。當(dāng)常規(guī)功率轉(zhuǎn)換效率超過90%時,許多工程師會選擇重新設(shè)計電路板,力求從不同的功能角度尋求更大的效率改進(jìn)空間,從而降低整體功耗。
低果先摘
一般來說,尋找功率增益的機(jī)會應(yīng)該從最明顯或者最容易的地方入手。當(dāng)功率轉(zhuǎn)換效率介于60%~75%之間時,最大的功率增益首先來自于由線性穩(wěn)壓器向開關(guān)穩(wěn)壓器的轉(zhuǎn)換,這將極大地提高系統(tǒng)的整體效率。如今,集成的高效開關(guān)穩(wěn)壓器已面市,工程師必須在功率轉(zhuǎn)換之外尋求新的突破。
尺寸、重量、散熱與成本都是移動市場的驅(qū)動因素,這些因素往往會對決策過程產(chǎn)生影響。目前,電池是系統(tǒng)中的薄弱環(huán)節(jié),還無法跟上半導(dǎo)體工藝流程技術(shù)的發(fā)展速度。隨著現(xiàn)代電源能效的不斷提高,減少功率損耗的下一個機(jī)遇將來自于系統(tǒng)結(jié)構(gòu)本身。最近幾年,英特爾和其他CPU制造商逐漸意識到加快CPU的運(yùn)行速度也許并不是提高性能的最好辦法。他們面臨的主要問題是處理器的發(fā)熱量以及外圍設(shè)備的動態(tài)要求。逐步遷移至多核架構(gòu),并且提供支持多核的操作系統(tǒng),將能夠?qū)崿F(xiàn)更為明顯的性能增益(同時降低功耗)。
就像CPU的供應(yīng)商不再通過改變兆赫數(shù)字來改進(jìn)性能一樣,移動產(chǎn)品的設(shè)計者也應(yīng)當(dāng)重新審視相關(guān)功能的實(shí)現(xiàn)途徑。模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換(ADC)就是這樣一個開始在架構(gòu)方面產(chǎn)生改變的領(lǐng)域。例如,美國國家半導(dǎo)體創(chuàng)造性地采用了集成折疊轉(zhuǎn)換器,不僅極大地提高了運(yùn)行速度(每秒千兆次采樣),而且在運(yùn)行過程中最大限度地降低了能源消耗。傳統(tǒng)的閃存型轉(zhuǎn)換器受到比較器最大集成數(shù)量的限制,一個閃存數(shù)模轉(zhuǎn)換器中比較器的數(shù)量是輸出位數(shù)的函數(shù)(2n位)。例如,一個10位閃存數(shù)模轉(zhuǎn)換器將需要1 024個比較器,外加溫度計碼至格雷碼至二進(jìn)制的轉(zhuǎn)換電路和一個高精度統(tǒng)一梯形電阻分壓器。
折疊轉(zhuǎn)換器基于完全不同的設(shè)計方法,采用少量的比較器(通常為32~64個),并將輸入信號范圍進(jìn)行“折疊”,使之始終處于比較器網(wǎng)絡(luò)限值之內(nèi),如圖1所示。此處的技巧是對由折疊過程引入的積分和差分非線性進(jìn)行補(bǔ)償。這樣的結(jié)構(gòu)代表了解決這種棘手問題的全新思路,并且極大地降低了實(shí)現(xiàn)這一功能所需的能源消耗。對于一個每秒千兆次采樣的雙10位轉(zhuǎn)換器(PowerWise ADC10D1000)來說,這種方法可以將功耗從幾十瓦降低至三瓦。這是在便攜成像、雷達(dá)和軟件無線電系統(tǒng)中普遍采用的節(jié)約功率的手段。
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數(shù)字功率架構(gòu)
在大型ASIC或者SoIC設(shè)計中,架構(gòu)也同樣重要。即使在縮減工藝流程的幾何尺寸時,CMOS晶體管相關(guān)的動態(tài)和靜態(tài)損失也是一個經(jīng)常遇到的問題。CMOS的能源消耗公式如下:
E=(aCfCLKV2+VILEAK)×tTASK
其中包含了一個與頻率相關(guān)的動態(tài)項和一個靜態(tài)漏電流項。當(dāng)工藝尺寸不斷縮減時,這兩項參數(shù)都會出現(xiàn)問題。電容負(fù)載和貫穿電流將會減小,但是芯片上的元件數(shù)量將會增加,由此造成了每個芯片上面更高的動態(tài)功率消耗。由次閾值漏電流、漏源擴(kuò)展漏電流和電子隧穿引起的靜態(tài)損失,以及漏極引發(fā)勢壘下降(DIBL)等短溝道效應(yīng)日益成為大型數(shù)字ASIC設(shè)計中的嚴(yán)重問題。
當(dāng)設(shè)計大型數(shù)字系統(tǒng)時,必須在整個運(yùn)行過程中正確地設(shè)定時序,包括供給電壓、工序和溫度波動。這樣的設(shè)計瓶頸使得功率消耗處于最差的水平,即使在適當(dāng)?shù)臏囟然蛘吒斓墓ば蛑幸彩侨绱?,設(shè)備仍將消耗同樣的能源。一種解決辦法是改變設(shè)計結(jié)構(gòu),使其適應(yīng)于設(shè)備的環(huán)境。自適應(yīng)電壓調(diào)節(jié)(AVS)正是實(shí)現(xiàn)此目的的一種技術(shù)。
AVS集成了一個數(shù)字子系統(tǒng),可以監(jiān)測設(shè)備的運(yùn)行狀況(它與應(yīng)用數(shù)字邏輯同步),動態(tài)調(diào)整芯片內(nèi)部不同電壓島的供給電壓。當(dāng)性能要求發(fā)生變化時,芯片內(nèi)部的AVS邏輯會向外部的功率管理裝置發(fā)送更新信號,該裝置稱為能源管理單元EMU,功能是升高或者降低電壓島的供給電壓。動態(tài)項是供給電壓的平方函數(shù),因此可以提供最大的增益改進(jìn)。即使靜態(tài)項只是供給電壓的線性函數(shù),漏電流的減小仍然可以顯著地降低能耗。
出于盡可能節(jié)約能源的目的,設(shè)計結(jié)構(gòu)再次顯現(xiàn)出它的重要性。為了使AVS或者其他電壓調(diào)整技術(shù)最大限度地發(fā)揮功效,系統(tǒng)設(shè)計者必須重新考慮功能區(qū)域的劃分,提供彼此分離的電壓島和頻率區(qū)間。如果已有的設(shè)計中利用一個單獨(dú)的電壓源向所有核心邏輯供電,那么新的低功率設(shè)計中就應(yīng)采取多個電壓島,這里的時鐘區(qū)間將成為動態(tài)要求的限制因素。而且,基于較慢時序的原因,這些電壓島可以利用電壓調(diào)整技術(shù)或者簡單地采用更低的核心電壓。
人們對于便攜性的需求越來越高,尤其是在醫(yī)療、通信和軍事防衛(wèi)領(lǐng)域。工程師需要考慮功率轉(zhuǎn)換器之外的解決方案,以尋求更大的系統(tǒng)效率增益。從系統(tǒng)架構(gòu)方面來看,有時采取創(chuàng)新的手段來實(shí)現(xiàn)某些功能——特別是當(dāng)常規(guī)的功率轉(zhuǎn)換器效率處于90%以上的水平時,往往可以帶來巨大的效率改進(jìn)。電源技術(shù)最終將趕上工藝流程和IC設(shè)計方面的技術(shù)進(jìn)展,然而在工程師擁有更高的能源密度之前,系統(tǒng)效率依然是延長工作時間和降低熱消耗的解決方案之一。
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