NI發(fā)布2011自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望

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技術(shù)分類： 測(cè)試與測(cè)量| 2011-04-13
EDN China

　　美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）近日發(fā)布了《2011自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望》，就影響測(cè)試測(cè)量的技術(shù)與方法發(fā)表了研究結(jié)果。該報(bào)告所闡述的發(fā)展趨勢(shì)覆蓋了消費(fèi)電子、汽車、半導(dǎo)體、航空航天、醫(yī)療設(shè)備和通信等眾多產(chǎn)業(yè)，幫助工程師和企業(yè)管理人員利用最新策略和最佳實(shí)踐案例，優(yōu)化測(cè)試組織架構(gòu)。

　　《2011自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望》以學(xué)術(shù)和工業(yè)研究、網(wǎng)上論壇、問卷調(diào)查、商業(yè)咨詢、客戶反饋等多種形式廣泛進(jìn)行調(diào)查，提出了下一代測(cè)試測(cè)量行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)，以應(yīng)對(duì)該行業(yè)所存在的商業(yè)與技術(shù)挑戰(zhàn)。報(bào)告從四個(gè)方面進(jìn)行了闡述：

　　-- 測(cè)試資源整合：將設(shè)計(jì)驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試的資源整合在一起，需要重視人力資源、流程控制和技術(shù)等方面的革新。

　　-- 系統(tǒng)軟件棧：一個(gè)高度集成的軟件架構(gòu)可以提升測(cè)試性能，并縮短開發(fā)時(shí)間時(shí)間。

　　-- 異質(zhì)計(jì)算：未來的測(cè)試系統(tǒng)將會(huì)需要不同類型的運(yùn)算節(jié)點(diǎn)，來滿足愈加嚴(yán)格的數(shù)據(jù)分析與處理要求。

　　--IPto the Pin：在設(shè)計(jì)與測(cè)試階段共享FPGA IP可顯著縮短對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證測(cè)試的時(shí)間，提高產(chǎn)品測(cè)試的效率和故障檢測(cè)覆蓋率。

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